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宇航志達小型恒溫恒濕試驗箱 高低溫沖擊箱用于針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗，是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。

宇航志達小型恒溫恒濕試驗箱 高低溫沖擊箱適用標(biāo)準： 

1、GB2423.1－89　試驗A低溫試驗方法 　　  

2、GB2423.2－89　試驗B高溫試驗方法 　　

3、GB2423.22－89　試驗N溫度變化試驗方法 　　

4、GJB150.3-86　高溫試驗 　　

5、GJB150.4－86　低溫試驗方法 　　

6、GJB150.5－86　溫度沖擊試驗 　　

7、GB10589－89　低溫試驗箱技術(shù)條件 　　

8、GB11158－89　高溫試驗箱技術(shù)條件 　　

9、GB10592-89　高、低溫試驗箱技術(shù)條件

10、GB/T 18287-2000 鋰電池測試標(biāo)準